Change search
CiteExportLink to record
Permanent link

Direct link
Cite
Citation style
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Other style
More styles
Language
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Other locale
More languages
Output format
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Fokuserad jonstrålemikroskopi (Focused Ion Beam “FIB”) i materialforskningen på Swerea KIMAB AB
RISE, Swerea, Swerea KIMAB.
2011 (Swedish)Report (Refereed)
Abstract [sv]

Med ett fokuserat jonstrålemikroskop (Eng. Focused Ion Beam, FIB) kan materialet som ska analyseras manipuleras med en stråle av gallium (Ga+) joner. Jonstrålen kan polera, ”gräva” och avverka materia med hög precision, platsspecifikt med nanometer noggrannhet. Ett FIB-instrument används därför med fördel då analys ska göras av mycket små eller tunna mikrostrukturkomponenter, korngränser, fasgränser eller en sprickspets för att nämna några tillämpningsområden. Det är även möjligt att göra tvärsnittsanalyser av tunna ytbeläggningar eller oxider på material då de yttersta nanometrarna kan friläggas och analyseras i SEM, EDS, EBSD, STEM eller TEM.. Provpreparering för transmissionselektronmikroskopi (STEM/TEM) är ett viktigt användningsområde, då både provuttagning och förtunning av provet kan göras med hög exakthet. Små materialmängder (typiskt 10μm*10μm*80nm) är fördelaktigt när materialet är magnetiskt och högupplösande bilder med hög kvalitet krävs. Moderna FIB är så kallade ”tvåstråleinstrument” (Eng. Dual Beam) där observationer och analyser kan göras med elektronstrålen som i ett konventionellt svepelektronmikroskop. Detta samtidigt som, eller i direkt anslutning till att avverkning gjorts med jonstrålen. En ytterligare fördel med tekniken är att den är tillämpbar på de flesta typer av material, alltifrån metaller till polymerer, keramer och kompositer. Målet med detta projekt var att bygga kompetens för användning och etablera FIB som metod för forskare på Swerea KIMAB AB och att förmedla tekniken till våra kunder. En annan viktig del i projektet var att utvärdera behovet av ett FIB/Dual Beam mikroskop på Swerea KIMAB AB och verka som ett underlag för investering i ett eget instrument. För att en investering ska vara (ekonomiskt) möjlig krävs att ett brett underlag av forskningsprojekt efterfrågar tekniken. Det är därför viktigt att våra kunder får möjlighet att se vad som kan åstadkommas med deras material och vilka problemställningar som kan bearbetas eller lösas med ett FIB mikroskop. I projektet jobbade vi parallellt med medlemsprojekt och andra kundorienterade projekt där material med passande mikrostrukturer studerades, t.ex. rostfritt stål, martensit och bainit. Dessutom arbetade vi tillsammans med forskare inom flertalet forskningsområden på Swerea KIMAB AB, vilka även bidrog med en del av finansieringen. Efter dryga tvår år med kompetensbreddning inom området FIB/Dual Beam ser vi att det finns ett stort intresse av tekniken hos våra kunder och inte minst internt på Swerea KIMAB AB. Vi har visat att det är möjligt att använda FIB-tekniken för provpreparering, analys och karaktärisering av för oss intressanta material, mikrostrukturer och ytskikt. I många fall skulle provpreparering inte ha varit möjlig utan FIB. Vi ser också att det är svårt att ha spetskompetens på området när vi inte har tillgång till ett instrument som vi dels kan jobba med dygnet runt och som vi inte själva kan utrusta specifikt för våra ändamål. Vår övergripande slutsats är att FIB/Dual Beam är en teknik av stor nytta för Swerea KIMAB AB och att vi bör investera i ett eget instrument för att kunna erbjuda våra kunder spetskompetens inom området och god tillgänglighet.

Place, publisher, year, edition, pages
Swerea KIMAB AB , 2011.
Series
Rapport / Institutet för metallforskning, ISSN 1403-848X ; KIMAB-2011-115
National Category
Materials Engineering
Identifiers
URN: urn:nbn:se:ri:diva-13035OAI: oai:DiVA.org:ri-13035DiVA: diva2:973229
Available from: 2016-09-22 Created: 2016-09-22Bibliographically approved

Open Access in DiVA

No full text

By organisation
Swerea KIMAB
Materials Engineering

Search outside of DiVA

GoogleGoogle Scholar

Total: 2 hits
CiteExportLink to record
Permanent link

Direct link
Cite
Citation style
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Other style
More styles
Language
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Other locale
More languages
Output format
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
v. 2.27.0