Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Reliability study of GaN HEMTs
Jönköping University, Sweden.
RISE., SP – Sveriges Tekniska Forskningsinstitut.
Saab AB, Sweden.
RISE., Swedish ICT, Acreo.
Visa övriga samt affilieringar
2016 (Engelska)Konferensbidrag, Muntlig presentation med publicerat abstract (Övrigt vetenskapligt)
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2016.
Nationell ämneskategori
Annan elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:ri:diva-32927OAI: oai:DiVA.org:ri-32927DiVA, id: diva2:1169776
Konferens
ISiCPEAW 2016 - International SiC Power Electronics Applications Workshop, May 18-19, 2016, Stockholm, Sweden
Tillgänglig från: 2017-12-29 Skapad: 2017-12-29 Senast uppdaterad: 2019-06-25Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Personposter BETA

Leisner, Peter

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Leisner, Peter
Av organisationen
SP – Sveriges Tekniska ForskningsinstitutAcreo
Annan elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 8 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
v. 2.35.8