Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Reliability study of GaN HEMTs
Jönköping University, Sweden.
RISE., SP – Sveriges Tekniska Forskningsinstitut.
Saab AB, Sweden.
RISE., Swedish ICT, Acreo.
Vise andre og tillknytning
2016 (engelsk)Konferansepaper, Oral presentation with published abstract (Annet vitenskapelig)
sted, utgiver, år, opplag, sider
2016.
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:ri:diva-32927OAI: oai:DiVA.org:ri-32927DiVA, id: diva2:1169776
Konferanse
ISiCPEAW 2016 - International SiC Power Electronics Applications Workshop, May 18-19, 2016, Stockholm, Sweden
Tilgjengelig fra: 2017-12-29 Laget: 2017-12-29 Sist oppdatert: 2019-06-25bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Personposter BETA

Leisner, Peter

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Leisner, Peter
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetric

urn-nbn
Totalt: 8 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
v. 2.35.8