Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry imaging of dopant diffusion in optical fiber
RISE., Swedish ICT, Acreo.ORCID-id: 0000-0003-0830-6226
Visa övriga samt affilieringar
2003 (Engelska)Ingår i: Applied Surface Science, ISSN 0169-4332, E-ISSN 1873-5584, Vol. 203-204, s. 3458-61Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2003. Vol. 203-204, s. 3458-61
Nationell ämneskategori
Data- och informationsvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:ri:diva-32240OAI: oai:DiVA.org:ri-32240DiVA, id: diva2:1152099
Tillgänglig från: 2017-10-24 Skapad: 2017-10-24 Senast uppdaterad: 2024-05-14Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Person

Hellsing, MajaClaesson, Åsa

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Hellsing, MajaClaesson, Åsa
Av organisationen
Acreo
I samma tidskrift
Applied Surface Science
Data- och informationsvetenskap

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 29 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf