Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Influence of waveguide width errors on TRL and LRL calibrations
RISE., SP – Sveriges Tekniska Forskningsinstitut, SP Mätteknik. Chalmers University of Technology, Sweden.
RISE., SP – Sveriges Tekniska Forskningsinstitut, SP Mätteknik, Kommunikation. Chalmers University of Technology, Sweden.
RISE., SP – Sveriges Tekniska Forskningsinstitut, SP Mätteknik. Chalmers University of Technology, Sweden.
Chalmers University of Technology, Sweden.
Visa övriga samt affilieringar
2012 (Engelska)Ingår i: 79th ARFTG Microwave Measurement Conference: Non-Linear Measurement Systems, 2012, , s. 6291182artikel-id 6291182Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

This paper investigates the impact of the waveguide width tolerance in TE 10 mode waveguide TRL/LRL calibration kits. This is important for vector network analyzer measurements in the THZ range where waveguide tolerances become large compared the wavelength and to cross sectional dimensions. Besides causing reflections in the waveguide interface, the waveguide width tolerance also causes a change in the propagation constant that can shift the reference planes and cause problems in estimating the propagation constant of the Line standard. We conclude that the tolerances may cause a significant uncertainty contribution and may limit the useful band of the calibration kit.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2012. , s. 6291182artikel-id 6291182
Nyckelord [en]
LRL, Propagation constant, Reference plane, TRL, uncertainty, Vector network analyzers, VNA, Waveguide interfaces
Nationell ämneskategori
Naturvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:ri:diva-12516DOI: 10.1109/ARFTG79.2012.6291182Scopus ID: 2-s2.0-84867805916Lokalt ID: 23928OAI: oai:DiVA.org:ri-12516DiVA, id: diva2:970340
Konferens
79th ARFTG Microwave Measurement Conference: Non-Linear Measurement Systems, ARFTG 2012; Montreal, QC; Canada; 22 June, 2012
Tillgänglig från: 2016-09-13 Skapad: 2016-09-13 Senast uppdaterad: 2020-12-21Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus
Av organisationen
SP MätteknikKommunikation
Naturvetenskap

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 15 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf