Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Analysis of atomic force microscopy data for deformable materials
RISE., SP – Sveriges Tekniska Forskningsinstitut, SP Sveriges tekniska forskningsinstitut, YKI – Ytkemiska institutet.ORCID-id: 0000-0002-8935-8070
2005 (Engelska)Ingår i: Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies / [ed] J. Drelich, Kash L. Mittal, Leiden-Boston: VSP , 2005, s. 155-171Kapitel i bok, del av antologi (Refereegranskat)
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Leiden-Boston: VSP , 2005. s. 155-171
Nationell ämneskategori
Naturvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:ri:diva-858ISBN: 9789047416463 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:ri-858DiVA, id: diva2:955303
Tillgänglig från: 2016-08-25 Skapad: 2016-08-25 Senast uppdaterad: 2018-08-17Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Personposter BETA

Rutland, Mark W.

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Rutland, Mark W.
Av organisationen
YKI – Ytkemiska institutet
Naturvetenskap

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

isbn
urn-nbn
Totalt: 1 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
v. 2.35.7