Driftstörningar
Just nu har vi driftstörningar på sök-portalerna på grund av hög belastning. Vi arbetar på att lösa problemet, ni kan tillfälligt mötas av ett felmeddelande.
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Impact of Black Pad and Intermetallic Layers on the Risk for Fractures in Solder Joints to ElectrolessNickel/Immersion Gold
RISE - Research Institutes of Sweden, Swerea, Swerea IVF AB.ORCID-id: 0000-0002-8556-0925
2011 (Engelska)Ingår i: The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects / [ed] Grossmann, Günter, Zardini, Christian, London: Springer, 2011, s. 179-196Kapitel i bok, del av antologi (Refereegranskat)
Abstract [en]

Solder joints to solder lands plated with electroless nickel and immersion gold are prone to fractures in the interface between the solder and the nickel surface. A common cause for these fractures has been a plating defect in the solder land coating called “black pad”. However, solder joints to solder lands plated with electroless nickel are inclined to fractures even if the black pad defect is not present. The causes of the black pad defect and the mechanisms for the increased inclination for fractures in solder joints to electroless nickel are discussed. Test methods for detecting black pad defects and assessing the risk for fractures in the solder joints are also described.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
London: Springer, 2011. s. 179-196
Nationell ämneskategori
Elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:ri:diva-30154DOI: 10.1007/978-0-85729-236-0_8ISBN: 978-0-85729-235-3 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:ri-30154DiVA, id: diva2:1129112
Tillgänglig från: 2017-08-01 Skapad: 2017-08-01Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Tegehall, Per-Erik
Av organisationen
Swerea IVF AB
Elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 13 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf