Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Analysis of atomic force microscopy data for deformable materials
RISE., SP – Sveriges Tekniska Forskningsinstitut, SP Sveriges tekniska forskningsinstitut, YKI – Ytkemiska institutet.ORCID-id: 0000-0002-8935-8070
2005 (engelsk)Inngår i: Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies / [ed] J. Drelich, Kash L. Mittal, Leiden-Boston: VSP , 2005, s. 155-171Kapittel i bok, del av antologi (Fagfellevurdert)
sted, utgiver, år, opplag, sider
Leiden-Boston: VSP , 2005. s. 155-171
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:ri:diva-858ISBN: 9789047416463 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:ri-858DiVA, id: diva2:955303
Tilgjengelig fra: 2016-08-25 Laget: 2016-08-25 Sist oppdatert: 2018-08-17bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Personposter BETA

Rutland, Mark W.

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Rutland, Mark W.
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

isbn
urn-nbn

Altmetric

isbn
urn-nbn
Totalt: 1 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
v. 2.35.7